手機(jī)的可靠性測試項(xiàng)目
產(chǎn)品可靠性測試(PRT)的目的是在特定的可接受的環(huán)境下不斷的催化產(chǎn)品的壽命和疲勞度，可以在早期預(yù)測和評估產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)工程師必須通曉可靠性測試的所有標(biāo)準(zhǔn)，在設(shè)計(jì)階段就必須采取正確的設(shè)計(jì)和選擇合適的材料來避免后續(xù)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性問題。產(chǎn)品必須經(jīng)過國家的可靠性測試，而且越來越嚴(yán)格，要求也越來越高，這就對我們的設(shè)計(jì)提出了更高的要求。
可靠性測試包括六個部分：加速壽命測試，氣候適應(yīng)測試，結(jié)構(gòu)耐久測試，表面裝飾測試，特殊條件測試，及其他條件測試。
手機(jī)可靠性測試項(xiàng)目
1.1. 加速壽命測試ALT (Accelerated Life Test)
1.1.1 室溫下參數(shù)測試 (Parametric Test)
1.1.2 溫度沖擊測試(Thermal Shock)
1.1.3 跌落試驗(yàn)(Drop Test)
1.1.4 振動試驗(yàn)(Vibration Test)
1.1.5 濕熱試驗(yàn)(Humidity Test)
1.1.6 靜電測試(ESD)
1.2.氣候適應(yīng)性測試 (Climatic Stress Test)
A： 一般氣候性測試：
1.2.1.高溫/低溫參數(shù)測試(Parametric Test)
1.2.2.高溫/低溫功能測試(Functional Test)
B：惡劣氣候性測試
1.2.3.灰塵測試(Dust Test)
1.2.4.鹽霧測試(Salt fog Test)
1.3.結(jié)構(gòu)耐久測試 (Mechanical Endurance Test)
1.3.1.按鍵測試(Keypad Test)
1.3.2.側(cè)鍵測試(Side Key Test)
1.3.3.翻蓋測試(Flip Life Test)
1.3.4.滑蓋測試(Slide Life Test)
1.3.5. 重復(fù)跌落測試(Micro-Drop Test)
1.3.6. 充電器插拔測試(Charger Test)
1.3.7.筆插拔測試(Stylus Test)
1.3.8點(diǎn)擊試驗(yàn) (Point Activation Life Test)
1.3.9劃線試驗(yàn) (Lineation Life Test)
1.3.10.電池/電池蓋拆裝測試(Battery/Battery Cover Test)
1.3.11. SIM Card 拆裝測試(SIM Card Test)
1.3.12. 耳機(jī)插拔測試(Headset Test)
1.3.13.導(dǎo)線連接強(qiáng)度試驗(yàn)(Cable Pulling Endurance Test--Draft)
1.3.14.導(dǎo)線折彎強(qiáng)度試驗(yàn)(Cable Bending Endurance Test--Draft)
1.3.15.導(dǎo)線擺動疲勞試驗(yàn)(Cable Swing Endurance Test--Draft)
1.4 表面裝飾測試 (Decorative Surface Test)
1.4.1.磨擦測試(Abrasion Test - RCA)
1.4.2.附著力測試(Coating Adhesion Test)
1.4.3.汗液測試(Perspiration Test)
1.4.4.硬度測試(Hardness Test)
1.4.5. 鏡面摩擦測試(Lens Scratch Test)
1.4.6 紫外線照射測試(UV illuminant Test)
1.5.1. 低溫跌落試驗(yàn)(Low temperature Drop Test)
1.5.2. 扭曲測試(Twist Test)
1.5.3. 坐壓測試(Squeeze Test)
1.5.4. 鋼球跌落測試(Ball Drop Test)
1.6 其他條件測試
1.6.1螺釘?shù)臏y試(Screw Test)
1.6.2掛繩孔強(qiáng)度的測試(Hand Strap Test)
可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計(jì)、應(yīng)用過程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機(jī)械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗(yàn)設(shè)備對其進(jìn)行驗(yàn)證，這個驗(yàn)證基本分為研發(fā)試驗(yàn)、試產(chǎn)試驗(yàn)、量產(chǎn)抽檢三個部分。
1.其中氣候環(huán)境包含：高溫、低溫、高低溫交變、高溫高濕、低溫低濕、快速溫度變化、溫度沖擊、高壓蒸煮(HAST)、溫升測試、鹽霧腐蝕(中性鹽霧、銅加速乙酸、交變鹽霧)、人工汗液、氣體腐蝕(SO2/H2S/HO2/CL2)、耐焊接熱，沾錫性，防塵等級測試(IP1X-6X)，防水等級測試(IPX1-X8)、阻燃測試，UV老化(熒光紫外燈)、太陽輻射(氙燈老化、鹵素?zé)?、等等;
2.其中機(jī)械環(huán)境包含：振動(隨機(jī)振動，正弦振動)、機(jī)械沖擊、機(jī)械碰撞、跌落、斜面沖擊，溫濕度 振動三綜合、高加速壽命測試(HALT)、高加速應(yīng)力篩選(HASS、HASA)、插拔力，保持力，插拔壽命，按鍵壽命測試、搖擺試驗(yàn)、耐磨測試、附著力測試、百格測試等。
可靠性影響因素
影響產(chǎn)品可靠性的極其重要的因素是環(huán)境
環(huán)境因素多種多樣：溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風(fēng)、雷、電、鹽霧、砂塵、振動、沖擊、噪聲、電磁輻射等，都不可避免地對電子產(chǎn)品產(chǎn)生不良影響。有資料顯示，電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應(yīng)引起：其中由溫度引起的占40%，由振動引起的占27%，由濕度引起的占19%，其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障。環(huán)境試驗(yàn)作為可靠性試驗(yàn)的一種類型已經(jīng)發(fā)展成為一種預(yù)測產(chǎn)品使用環(huán)境是如何影響產(chǎn)品的性能和功能的方法。
在手機(jī)投入市場之前，環(huán)境試驗(yàn)被用來評估環(huán)境影響手機(jī)的程度，當(dāng)手機(jī)的功能受到了影響，環(huán)境試驗(yàn)被用來查明原因，并采取措施保護(hù)手機(jī)免受環(huán)境影響以保護(hù)手機(jī)的可靠性，環(huán)境試驗(yàn)也被用來分析手機(jī)在實(shí)際使用過程中出現(xiàn)的缺陷以及新產(chǎn)品的改進(jìn)。
嚴(yán)格意義上講，只有通過了環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)，滿足規(guī)定的條件，才能進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)對于保證手機(jī)的可靠性是非常有效的。
